當(dāng)前位置:岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司>>膜厚儀>>Filmetrics膜厚儀>> F20Filmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)x
Filmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)x F20
測(cè)量厚度從1nm到10mm的先進(jìn)膜厚測(cè)量系統(tǒng)
不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果?;谀衬K化設(shè)計(jì)的特點(diǎn),F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用:
• 測(cè)量厚度、折射率、反射率和穿透率:
- 單層膜或多層膜疊加
- 單一膜層
- 液態(tài)膜或空氣層
• 不同條件下的測(cè)量,包括:
- 在平面或彎曲表面
- 光斑小可達(dá)20微米
- 桌面式、XY坐標(biāo)自動(dòng)化膜厚測(cè)量,或在線配置
所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時(shí)的電話和互聯(lián)網(wǎng)支持(24小時(shí)/每周5工作日)。這就是Filmetrics的優(yōu)勢(shì)!歡迎您試一試!
膜層范例
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測(cè)量。
這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導(dǎo)體材料,例如:
SiNX | TiO2 | DLC |
光刻膠SU-8 | 聚合物 | 有機(jī)電致發(fā)光器AIQ材料 |
非晶硅 | ITO | 硒化銅銦鎵CIGS |
厚度測(cè)量范圍
測(cè)量原理為何?
軟件功能以使用者為導(dǎo)向
其他的選用配件
選擇Filmetrics的優(yōu)勢(shì)
• 24小時(shí)電話,郵件和在線支持
• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標(biāo)準(zhǔn)分析軟件
附加特性
• 嵌入式在線診斷方式
• 免費(fèi)離線分析軟件
• 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能,幫助用戶有效地存儲(chǔ),重現(xiàn)與繪制測(cè)試結(jié)果
Filmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)x應(yīng)用
半導(dǎo)體膜層 液晶顯示器
• 光刻膠 • OLED
• 加工膜層 • 玻璃厚度
• 介電層 • ITO和TCOs
光學(xué)鍍層 生物醫(yī)學(xué)
• 硬涂層 • 聚對(duì)二甲苯
• 抗反射層 • 醫(yī)療器械